低功率纳米技术及其它器件的测量技术及误差源 II

2016-09-04 18:29 作者:admin 来源:未知 浏览: 我要评论(条) 字号:

摘要:外部噪声源[]通常是马达、电脑显示屏或其它电子设备产生的干扰信。这些噪声可以通过屏蔽和滤波、 逍遥丸的作用 去除或关断噪声源来得到控制。这些噪声[]源通常在电力线频率上,因此在进行锁定测量时,测试频率应避开Hz(Hz)的倍数或分数倍。在直流反转技术

外部噪声源[]通常是马达、电脑显示屏或其它电子设备产生的干扰信。这些噪声可以通过屏蔽和滤波、逍遥丸的作用去除或关断噪声源来得到控制。这些噪声[]源通常在电力线频率上,因此在进行锁定测量时,测试频率应避开Hz(Hz)的倍数或分数倍。在直流反转技术中,使得每次测量都为电力线周期的整数倍来实现这目的。

热电动势是由于电的不同部分处在不同的温度下,以及不同材料的导体互相接触而产生的。降低热电动势可以通过保持所有导线处于同温度下,并在可能的地方使用铜对铜的连接来实现。考虑到无法电的每个部分都使用铜材料(测试对象本身通常也不是铜材料),所以通常会使用锁定放大器技术、直流反转技术这样的测量方法来降低热噪声。消癌平糖浆

测试引线电阻[]也会在被测电阻中引入误差。为防止引线电阻影响测量精度,应使用线(Kelvin)法进行测量。逍遥小说网

/f噪声[]用来描述低频下使幅值增加的任何噪声。具有这种特点的噪声在元件、测试电以及测试仪器中都可看到。因素例如温度及湿度会引起这种噪声,或是标签上标示的“老化”及“漂移”等元件的化学过程也会引起这种噪声。可以通过电流、电压、温度或阻值变化等观察到/f噪声。

通过以上讨论我们会将重点放在测量系统中的/f电压噪声上。因为般测试对象或是测试电中的元件受到的干扰以这种噪声为主。例如碳膜电阻主要表现出.%到.%的/f阻值误差,而这种阻值误差对于金属薄膜和绕线电阻来说则是碳膜电阻的/,

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标签:其它元器件
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